上海仪电物光  SGW  X-4显微熔点仪

产品特点

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

主要技术参数：

熔点测量范围：室温至320℃ 
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
                       ±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时） 
温度显示最小值： 1℃

熔点观察方式 单目显微镜

光学放大倍数 40×